Ruang penuaan dipercepatkan tekanan tinggi HAST dua lapisan juga dipanggil ruang ujian penuaan hayat dipercepatkan tinggi dua slot. Ia digunakan untuk menilai kebolehpercayaan produk atau bahan dalam persekitaran kelembapan. Ia dilengkapkan dengan menetapkan dan mewujudkan pelbagai keadaan suhu, kelembapan, tekanan dalam bekas tekanan yang sangat terkawal untuk menilai prestasi pengedap produk, higroskopisiti dan penuaan.
Ruang ujian penuaan dipercepatkan voltan tinggi HAST dua lapisan: digunakan untuk menilai rintangan alam sekitar komponen elektronik, PCB, produk cip, dan lain-lain di bawah suhu tinggi, kelembapan tinggi dan keadaan tekanan tinggi. Dengan mempercepatkan proses kegagalan, faktor pecutan adalah antara berpuluh-puluh dan beratus-ratus kali. Ujian kebolehpercayaan simulasi dipercepatkan melampau jenis ini mudah untuk menentukan keadaan kerja produk atau peranti yang melampau, menjadikannya lebih mudah untuk menemui mod kegagalan produk terlebih dahulu, dan memendekkan masa ujian hayat produk atau sistem, sekali gus mendapat masa untuk pengesahan pengeluaran besar-besaran.
Kawasan permohonan:
Papan litar bercetak, cip semikonduktor, getah silikon, seramik, bahan polimer...
Piawaian ujian:
AEC Q101
JIS C0096-2
GB / T2423.40-1997 Ujian alam sekitar untuk produk elektrik dan elektronik Bahagian 2: Kaedah ujian Cx: Haba lembap stabil wap tekanan tinggi tak tepu
IEC60068-2-66-1994 Ujian alam sekitar. Bahagian 2-66: Kaedah ujian. Ujian Cx: Stabil damp haba
JESD22-A100 Suhu dan kelembapan kitaran mengimbangi hayat
JESD22-A101 Suhu stabil, kelembapan/berat sebelah, ujian hayat (suhu, kelembapan, hayat berat sebelah)
JESD22-A102 Ujian memasak tekanan tinggi (rintangan penembusan lembapan dipercepatkan)
JESD22-A108 Suhu, voltan berat sebelah dan hayat kerja
JESD22-A110 HAST Ujian Tekanan Suhu dan Kelembapan Pecutan Tinggi
JESD22-A118 Suhu dan Kelembapan Ujian Tegasan Pecutan Tinggi Tidak berat sebelah UHAST (Wap Tekanan Tinggi Tidak Tepu Tidak Berat Sebelah)
Ciri-ciri produk:
1. Mengguna pakai reka bentuk slot berganda atas dan bawah, menjimatkan ruang makmal, harga satu mesin = nilai dua mesin, mengurangkan kos penggunaan peralatan.
2. Kawalan dwi skrin tunggal, mengurangkan tetapan yang kompleks dan rumit, memenuhi ujian serentak sampel yang berbeza, dan meningkatkan kecekapan ujian.
3. Reka bentuk terminal berat sebelah 96 hala untuk memenuhi ujian berat sebelah cip.
4. Produk ini serasi dengan HAST ketidaktepu stim tekanan tinggi, kelembapan malar dan ujian haba dan ujian stim tekanan tinggi tepu PCT.
5. Reka bentuk pintu ruang automatik, pembukaan dan penutupan pintu ruang kawalan butang, dengan perlindungan tekanan terbina dalam.
