Ruang penuaan dipercepatkan tekanan tinggi PCT, juga dikenali sebagai ruang ujian hayat tekanan tinggi stim tepu, digunakan untuk menilai rintangan alam sekitar komponen elektronik, PCB, produk cip, dsb. di bawah suhu tinggi, kelembapan tinggi dan keadaan tekanan tinggi. Ia mempercepatkan proses kegagalan, memendekkan masa ujian hayat produk atau sistem, dan menemui mod kegagalan produk terlebih dahulu.
Permohonan:
Papan litar bercetak, cip semikonduktor, getah silikon, seramik, bahan polimer...
Piawaian ujian:
GB / T10586-1989 Keadaan teknikal untuk kebuk ujian kelembapan dan haba.
GB2423.3-93 (IEC68-2-3) Ujian kelembapan dan haba malar.
Kaedah MIL-STD810D 502.2.
GJB150.9-8 Ujian suhu dan kelembapan.
GB2423.34-86, kaedah MIL-STD883C 1004.2 Ujian kitaran gabungan suhu, kelembapan dan tekanan tinggi.
JESD22-A102 Ujian memasak tekanan tinggi (rintangan penembusan lembapan dipercepatkan)
Ciri:
1. Kotak dalam arka, struktur kotak dalam ujian bulat keluli tahan karat, selaras dengan piawaian bekas keselamatan industri, boleh menghalang pemeluwapan dan titisan semasa ujian.
2. Reka bentuk ketepatan, kedap udara yang baik, sistem secara automatik menambah air yang mencukupi untuk ujian pada permulaan ujian, dan ujian tidak pernah terganggu.
3. Teknologi kawalan aliran servo baharu, penjimatan tenaga kira-kira 30%.
4. Teknologi simulasi bendalir + reka bentuk struktur yang inovatif, hayat peralatan dilanjutkan lebih daripada 1/3 berbanding dengan teknologi tradisional.
5. Pengawal sentuh LCD warna besar, lubang kabel sisi untuk beban luaran yang mudah dan sambungan data dalaman, pemantauan rangkaian boleh dijalankan melalui antara muka pilihan.
