Ruang Ujian Perubahan Suhu Pantas juga dikenali sebagai ruang ujian perubahan suhu pantas, digunakan untuk menilai kebolehsuaian produk kepada perubahan mendadak dalam suhu ambien. Ia sesuai untuk ujian pemeriksaan tekanan persekitaran (ESS) atau ujian kebolehpercayaan di bawah keadaan perubahan suhu yang cepat atau beransur-ansur. Kadar perubahan suhu biasa termasuk 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min, dan 25°C/min.
Ruang ujian perubahan suhu pantas Weibang ialah "ahli silap mata suhu" dalam industri instrumen. Ia digunakan untuk ujian saringan tekanan persekitaran (ESS) atau ujian kebolehpercayaan di bawah keadaan perubahan suhu yang cepat atau beransur-ansur. Kadar perubahan suhu yang biasa digunakan ialah 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min, dan 25°C/min.
Kawasan permohonan:
Cip semikonduktor, institusi penyelidikan saintifik, pemeriksaan kualiti, tenaga baharu, komunikasi optoelektronik, industri aeroangkasa dan ketenteraan, industri automobil, paparan LCD, industri perubatan dan teknologi lain.
Piawaian ujian:
Kaedah Ujian Suhu Rendah GB/T 2423.1, Kaedah Ujian Suhu Tinggi GJB 150.3, Kaedah Ujian Suhu Tinggi GB/T 2423.2, Ujian Suhu Rendah GJB 150.4, Kaedah Ujian Kitaran Kelembapan GB/T2423.34, Kaedah Ujian Kelembapan GJB 150.9, Kaedah Ujian Suhu dan Kelembapan IEC60068-2, Ujian Kelembapan MIL-STD-202G-103B
Ciri-ciri produk:
1. Teknologi kawalan aliran servo baharu + reka bentuk mekanikal yang inovatif: Penjimatan tenaga peralatan sebanyak 45% dan jangka hayat dilanjutkan lebih satu pertiga.
2. Reka bentuk saluran udara saintifik dengan alur keluar atas dan pulangan bawah memastikan penstabilan suhu dan kelembapan yang cepat, dengan keseragaman tinggi ≤1.5 °C.
3. Ciri pilihan termasuk nitrogen cecair, haba basah dan fungsi anti-pemeluwapan.
4. Mematuhi kedua-dua perubahan suhu tetap (perubahan suhu linear) dan purata (perubahan suhu bukan linear) ujian.
5. Mematuhi ujian kebolehpercayaan termasuk ujian saringan ESS tekanan persekitaran, ujian suhu dan kelembapan, ujian kitaran suhu, penyimpanan suhu tinggi dan rendah, dan ujian luluhawa.
